NEXIO participe à des salons autour de la Compatibilité Electromagnétique tout au long de l’année.

Séminaire technique "les solutions pour réussir dans toutes les phases de vos projets CEM, Foudre et ESD" - Toulouse

 mercredi 8 octobre 2014 09:00 mercredi 8 octobre 2014 17:30Salons et Séminaires
 

Description  

Sélectionnez la conférence à laquelle vous souhaitez assister :
 
> CONFERENCE 1    > CONFERENCE 2
 CEM, Foudre, ESD : Les solutions pour réussir votre conception    La CEM dans le domaine civil :
de la conception au marquage CE

Cas concrets industriels et méthodes d’investigation innovantes pour :

- Réussir la conception d’équipements électroniques face aux agressions (CEM, foudre et décharges électrostatiques)
- Tenir les exigences de compatibilité électromagnétique

   
Programme de la journée :
  
Méthodes d'investigation en Champ Proche pour optimiser la conception CEM :
- Analyses préliminaires         
- Investigations en Emission
- Investigations en Immunité Nouveauté
- Gestion des évolutions et obsolescences                                 
- Perspectives (Pré-Qualification / Normalisation)

Dimensionnements des protections Foudre et Méthodes d'investigation ESD :
- Optimisation (encombrement, masse, ...)
- Nouveaux concepts de composants
- Dimensionnement par simulation
- Investigation par essais


Intervenants :
Experts CEM, Foudre et ESD des secteurs
aéronautique, automobile, spatial et civil :
AIRBUS, BARCO, LAAS-CNRS, LITTELFUSE, NEXIO, WÜRTH Elektronik, ...

Horaires : 9h - 17h30

  Démarche, règles, cas concrets et outils pour :

- Appréhender la démarche marquage CE
- Interpréter les contraintes CEM liées au marquage CE
- Connaître les règles de base de la conception CEM d'un produit électronique


 Programme de la journée :

La démarche Marquage CE :
- Responsabilités et enjeux
- Comprendre les directives et les normes
- Mettre en place le processus


Les contraintes CEM liées au Marquage CE :
- Présentation et interprétation des normes d’essais CEM
- Matériels et réalisation des essais
- Conséquences sur les produits


La conception CEM d’un produit électronique :
- Couplage des perturbations
- Câblage et blindage des équipements
- Protections E/S des boitiers (filtrage, surtensions, …)


Intervenants :
Experts marquage CE et conception
: ASSYSTEM, NEXIO, ...

Horaires : 9h - 17h30
   

Expositions

Vous pourrez profiter des pauses et du buffet déjeunatoire pour découvrir :
> BAT-SCANNER : Nouveau système de mesures CEM en champ proche automatisé
> WÜRTH Elektronik : Fabricant de composants électroniques et électromécaniques
> LITTELFUSE : Leader en matière de protection des circuits électroniques

Partenaires de l'événement :


     
 

 

 
  > INFOS PRATIQUES

Lieu :
LAAS-CNRS
Accès :
7 Avenue du Colonel Roche, 31400 Toulouse

Contact :
05 61 44 02 47
elise.rey@nexio.fr


Inscription :
Gratuite
jusqu'au 27/09/2014




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