NEXIO participe à des salons autour de la Compatibilité Electromagnétique tout au long de l’année.

NEXIO participe au 19ème Colloque CEM 2018 - Cnam - Paris

 lundi 9 juillet 2018 mercredi 11 juillet 2018Salons et Séminaires
 

Description  

N'hésitez pas à venir nous rencontrer sur notre stand. Nous serons ravis de pouvoir vous informer sur nos offres et services.
Nous profitons également de cette occasion pour vous faire découvrir BAT-SCANNER
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Le scanner champ proche aide à la conception de circuits électroniques en évaluant leur comportement du point de vue CEM.
Grâce à un système robotique de haute précision, une automatisation optimisée et de nombreuses fonctions de post-traitement, BAT-SCANNER trace les champs électromagnétiques produits par votre équipement, identifie précisément les sources et dispose d’un outil pour élaborer des solutions d’aide à la réduction des émissions conduites et rayonnées.

De plus durant l'événement NEXIO animera 2 conférences :
- Lundi 9 juillet : 16:30 - 16:55  › EXTRAPOLATION DE LA MESURE CHAMP PROCHE VERS L'ESSAI EN EMISSION RAYONNEE : OUTIL «NFS2RE» - Samuel LEMAN, NEXIO

- Mardi 10 juillet : 09:15 - 09:40  › ANALYSE DES SYSTEMES COMPLEXES PAR SIMULATION EM MULTI-MODELES REDUITS A UN RESEAU DE LIGNES DE TRANSMISSION - Samuel LEMAN, NEXIO

 

Plus d'infos et inscription


 
 

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  • /actualites-fr/salons-fr/event/248-formation-sur-les-fondamentaux-et-regles-de-conception-des-cartes-electroniques-niveau-2-parisFormation sur les fondamentaux et règles de conception des cartes électroniques (niveau 2) - Paris (22-11-2018)
  • /actualites-fr/salons-fr/event/240-formation-a-la-creation-de-modeles-de-rapport-pour-bat-em-16Formation à la création de modèles de rapport pour BAT-EMC - Toulouse (27-11-2018)