En s’appuyant sur les méthodes de mesures, d’analyses et de post-traitements innovants issus du projet EPEA (www.epea.fr). NEXIO industrialise l’utilisation de son scanner champ proche 3D et aide à la conception de circuits électroniques en évaluant leur comportement du point de vue CEM.

Grâce à un système robotique de haute précision, une automatisation optimisée et de nombreuses fonctions de post-traitement, NEXIO trace les champs produits par votre équipement, identifie précisément les sources et dispose d’un outil sans égal pour élaborer et vérifier des solutions à la réduction des émissions conduites et rayonnées.



 

CARACTERISTIQUES :

  • Identifier et quantifier les sources de perturbation (limiter les surprotections)
  • Décliner des contraintes

  • Evaluer les non régressions au niveau des spécifications cartes et sous ensembles

  • Caractériser les fuites d’un blindage

  • Optimiser le placement Composant-Carte ou Carte-Boîtier

  • Constituer des bases de données de composants ou cartes

  • Calculer la distribution du champ

  • Conforter, étayer, alimenter des travaux de modélisation et de simulation numérique

News

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  • /component/allevents/display/event/default/74-formation-pour-comprendre-les-essais-cem-paris-fr?Itemid=372Formation pour comprendre les essais CEM - Paris (19-03-2019)
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