Les moyens de mesures propres :

  • Moyens d'essais CEM dimensionnés pour les normes civiles :

          - 10Vrms jusqu’à 80MHz en immunité conduite
          - 10V/m jusqu’à 6GHz en immunité rayonnée
          - Mesure en émission conduite jusqu’à 80MHz
          - Mesure en émission rayonnée jusqu'à 6GHz 

  • Scanner champ proche : Des essais d’investigation destinés à apporter une aide à la conception, à l'investigation et à l'optimisation de circuits électroniques en évaluant leur comportement CEM
  • Partenariat avec clients et laboratoires permettant de réaliser des essais dans d'autres secteurs :

           - Automobile
           -
Spatial
           -
Aéronautique/ Militaire

 

  • Nos Moyen

    Laboratoire d'essai

  • Nos Moyens

    Gyroscanfield 

  • Nos Moyens 3

    Scanner champ proche

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Prochainement

  • /component/allevents/display/event/default/231-formation-sur-les-fondamentaux-et-regle-de-conception-des-89?Itemid=204Formation sur les fondamentaux et règle de conception des équipements - Paris (28-04-2020)
  • /component/allevents/display/event/default/244-formation-pour-comprendre-les-essais-cem-toulouse?Itemid=204Formation pour comprendre les essais CEM - Toulouse (16-06-2020)
  • /component/allevents/display/event/default/246-formation-sur-les-fondamentaux-et-regles-de-conception-des-74?Itemid=204Formation sur les fondamentaux et règles de conception des cartes électroniques (niveau 1) - Paris (23-06-2020)
  • /component/allevents/display/event/default/201-nexio-will-participate-in-the-2019-ieee-symposium-on-electro?Itemid=204NEXIO will participate in the 2020 IEEE + SIPI, RENO - NV (USA) (27-07-2020)