Les moyens de mesures propres :

  • Moyens d'essais CEM dimensionnés pour les normes civiles :

          - 10Vrms jusqu’à 80MHz en immunité conduite
          - 10V/m jusqu’à 6GHz en immunité rayonnée
          - Mesure en émission conduite jusqu’à 80MHz
          - Mesure en émission rayonnée jusqu'à 6GHz 

  • Scanner champ proche : Des essais d’investigation destinés à apporter une aide à la conception, à l'investigation et à l'optimisation de circuits électroniques en évaluant leur comportement CEM
  • Partenariat avec clients et laboratoires permettant de réaliser des essais dans d'autres secteurs :

           - Automobile
           -
Spatial
           -
Aéronautique/ Militaire

 

  • Nos Moyen

    Laboratoire d'essai

  • Nos Moyens

    Gyroscanfield 

  • Nos Moyens 3

    Scanner champ proche

News

Prochainement

  • /component/allevents/display/event/default/273-formation-les-fondamentaux-de-la-cem-conception-et-essai?Itemid=204FORMATION CAPTRONIC : Les fondamentaux de la CEM : Conception et Essais (23-10-2018)
  • /component/allevents/display/event/default/274-nexio-sponsorise-lequipe-france-de-rugby-tag?Itemid=204NEXIO sponsorise l'équipe France de Tag Rugby (01-11-2018)
  • /component/allevents/display/event/default/244-formation-pour-comprendre-les-essais-cem-toulouse?Itemid=204Formation pour comprendre les essais CEM - Toulouse (06-11-2018)
  • /component/allevents/display/event/default/4-workshop-isae-2018?Itemid=204NEXIO will participate in the WORKSHOP EM ISAE 2018 - Toulouse (FR) (15-11-2018)
  • /component/allevents/display/event/default/71-formation-cartes-electroniques-niveau1-fr-57?Itemid=204Formation sur les fondamentaux et règles de conception des cartes électroniques (niveau 1) - Paris (20-11-2018)