Les moyens de mesures propres :

  • Moyens d'essais CEM dimensionnés pour les normes civiles :

          - 10Vrms jusqu’à 80MHz en immunité conduite
          - 10V/m jusqu’à 6GHz en immunité rayonnée
          - Mesure en émission conduite jusqu’à 80MHz
          - Mesure en émission rayonnée jusqu'à 6GHz 

  • Scanner champ proche : Des essais d’investigation destinés à apporter une aide à la conception, à l'investigation et à l'optimisation de circuits électroniques en évaluant leur comportement CEM
  • Partenariat avec clients et laboratoires permettant de réaliser des essais dans d'autres secteurs :

           - Automobile
           -
Spatial
           -
Aéronautique/ Militaire

 

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Prochainement

  • /component/allevents/display/event/default/246-formation-sur-les-fondamentaux-et-regles-de-conception-des-74?Itemid=400Formation sur les fondamentaux et règles de conception des cartes électroniques (niveau 1) - Paris (22-01-2019)
  • /component/allevents/display/event/default/236-alias-date-calendrier?Itemid=400Formation utilisateur au logiciel BAT-EMC - Paris (05-03-2019)
  • /component/allevents/display/event/default/83-formation-utilisateur-au-logiciel-bat-emc-toulouse-13?Itemid=400Formation utilisateur au logiciel BAT-EMC - Toulouse (11-03-2019)
  • /component/allevents/display/event/default/74-formation-pour-comprendre-les-essais-cem-paris-fr?Itemid=400Formation pour comprendre les essais CEM - Paris (19-03-2019)
  • /component/allevents/display/event/default/230-formation-sur-les-fondamentaux-et-regle-de-conception-des-64?Itemid=400Formation sur les fondamentaux et règle de conception des équipements - Grenoble (26-03-2019)