Description  

N'hésitez pas à venir nous rencontrer sur notre stand. Nous serons ravis de pouvoir vous informer sur nos offres et services.
Nous profitons également de cette occasion pour vous faire découvrir BAT-SCANNER.
Le scanner champ proche aide à la conception de circuits électroniques en évaluant leur comportement du point de vue CEM.
Grâce à un système robotique de haute précision, une automatisation optimisée et de nombreuses fonctions de post-traitement, BAT-SCANNER trace les champs électromagnétiques produits par votre équipement, identifie précisément les sources et dispose d’un outil pour élaborer des solutions d’aide à la réduction des émissions conduites et rayonnées.

De plus durant l'événement NEXIO animera 2 conférences :
- Lundi 9 juillet : 16:30 - 16:55  › EXTRAPOLATION DE LA MESURE CHAMP PROCHE VERS L'ESSAI EN EMISSION RAYONNEE : OUTIL «NFS2RE» - Samuel LEMAN, NEXIO

- Mardi 10 juillet : 09:15 - 09:40  › ANALYSE DES SYSTEMES COMPLEXES PAR SIMULATION EM MULTI-MODELES REDUITS A UN RESEAU DE LIGNES DE TRANSMISSION - Samuel LEMAN, NEXIO

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